CCDテクノロジーを用いた金属分析用の分光計です。
堅牢な構造と便利な操作や高い信頼性により、世界各国で親しまれております。
プログラム可能なデジタルスパーク源、自動校正の技術により、早くて信頼出来る結果を得ることができます。
ISO 9001の認証の取得あり
型番：OSK 75GQ M5000
◎特長◎
●高性能で低価格
● コンパクト設計の卓上型
●干渉補正によるグローバル工場校正
●分光計温度制御による高精度と安定性
●待機電力100VA、真空ポンプ不要の省エネ設計 ●簡素化された操作ソフトウェアにより、使いやすい
● 波長範囲140nm-680nm、より多くの元素の分析が可能
●最適化された性能、二重光学系設計、C、P、S、Nの分析が可能
●特注なQC機能とグレード識別功能により、未知の材料を簡単に分類
●インテリジェントなデータキャプチャ、バックグラウンド干渉の低減による精度の向上
●アルゴンパージ制御により、入り口レンズを汚染から保護し、メンテナンスを最小限に抑え ● 完全な波長範囲、特注な工場校正、それ以上のハードウェア構成なしで新しい要素が加わる
◎仕様◎
| 型番 | OSK 75GQ M5000 |
| ベース | Fe、Al、Cu zn、Ni、Ti、Mg、Coなどの関連塩基に対応。 |
| 光学系 | • 全波長をカバーするパッシェンランジ光学系 • 有効波長範囲140nm～680nm • 高分解能マルチCCD検出器を用いる • デュアル光学系デザイン、オプションのUV光学系 |
| 校正 | • 標準的な工場校正手順 •自由に選択できる分析プログラム •個々の要求に応じて特注な校正プログラム |
| 発光スタンド | •アルゴンフラッシュと最適化されたアルゴンフロー – 様々な試料形状に適応する簡単操作の試料クランプ •耐久性に優れた電極と容易なメンテナンス •操作簡単の小型サンプルクランプ |
| 読み出しシステム | •高性能DSPと超高速FPGAプロセッサ •外部PCオプション • イーサネットデータ伝送 |
| 励起光源 | •プログラマブルパルスデジタルソース •最適化されたエレクトロニクスと完全な励磁保護 •スパーク、アーク、複合放電波形を様々なベースで使用可能 • 高エネルギープリスパーク •周波数 IOOHz&1000Hz •最大放電電流：400A |
| ソフトウェア | •Windowsベースの使いやすいグラフィックインターフェース •自動診断システム •データベース管理 •Microsoft Windowsオペレーティン装置 |
| 電気的および環境的要件 |
•スパーク時最大400VA •室温： 10 0℃-v30 0℃ e •相対湿度： 20％-80％ |
| 寸法 | •長さ×幅×高さ：726×622×546mm •正味重量：80kg |
| モデル | 波長 | 説明 |
| OSK 75GQ M5000 F | 140-680 nm | C,P,S,N分析に最適化されたパフォーマンス。Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Coなどの塩基に対応。 |
| OSK 75GQ M5000 N | 170-680 nm | 分析用に最適化されたパフォーマンス。Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Coなどの塩基に対応。 |
| OSK 75GQ M5000 S | 200-680 nm | Al、Mg、Cu、Zn、Ni、Tiの塩基に使用可能 |
◎PDFカタログ◎
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