CCDテクノロジーを用いた金属分析用の分光計です。
堅牢な構造と便利な操作や高い信頼性により、世界各国で親しまれております。
プログラム可能なデジタルスパーク源、自動校正の技術により、早くて信頼出来る結果を得ることができます。
ISO 9001の認証の取得あり
OSK 75GQ M5000
型番:OSK 75GQ M5000
◎特長◎
●高性能で低価格
● コンパクト設計の卓上型
●干渉補正によるグローバル工場校正
●分光計温度制御による高精度と安定性
●待機電力100VA、真空ポンプ不要の省エネ設計 ●簡素化された操作ソフトウェアにより、使いやすい
● 波長範囲140nm-680nm、より多くの元素の分析が可能
●最適化された性能、二重光学系設計、C、P、S、Nの分析が可能
●特注なQC機能とグレード識別功能により、未知の材料を簡単に分類
●インテリジェントなデータキャプチャ、バックグラウンド干渉の低減による精度の向上
●アルゴンパージ制御により、入り口レンズを汚染から保護し、メンテナンスを最小限に抑え ● 完全な波長範囲、特注な工場校正、それ以上のハードウェア構成なしで新しい要素が加わる
◎仕様◎
型番 |
OSK 75GQ M5000 |
ベース |
Fe、Al、Cu zn、Ni、Ti、Mg、Coなどの関連塩基に対応。 |
光学系 |
• 全波長をカバーするパッシェンランジ光学系 • 有効波長範囲140nm~680nm • 高分解能マルチCCD検出器を用いる • デュアル光学系デザイン、オプションのUV光学系 |
校正 |
• 標準的な工場校正手順 •自由に選択できる分析プログラム •個々の要求に応じて特注な校正プログラム |
発光スタンド |
•アルゴンフラッシュと最適化されたアルゴンフロー – 様々な試料形状に適応する簡単操作の試料クランプ •耐久性に優れた電極と容易なメンテナンス •操作簡単の小型サンプルクランプ |
読み出しシステム |
•高性能DSPと超高速FPGAプロセッサ •外部PCオプション • イーサネットデータ伝送 |
励起光源 |
•プログラマブルパルスデジタルソース •最適化されたエレクトロニクスと完全な励磁保護 •スパーク、アーク、複合放電波形を様々なベースで使用可能 • 高エネルギープリスパーク •周波数 IOOHz&1000Hz •最大放電電流:400A |
ソフトウェア |
•Windowsベースの使いやすいグラフィックインターフェース •自動診断システム •データベース管理 •Microsoft Windowsオペレーティン装置 |
電気的および環境的要件 |
•スパーク時最大400VA •平均待機電力 50VA –
•室温: 10 0℃-v30 0℃ e
•相対湿度: 20%-80%
|
寸法 |
•長さ×幅×高さ:726×622×546mm •正味重量:80kg |
モデル |
波長 |
説明 |
OSK 75GQ M5000 F |
140-680 nm |
C,P,S,N分析に最適化されたパフォーマンス。Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Coなどの塩基に対応。 |
OSK 75GQ M5000 N |
170-680 nm |
分析用に最適化されたパフォーマンス。Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Coなどの塩基に対応。 |
OSK 75GQ M5000 S |
200-680 nm |
Al、Mg、Cu、Zn、Ni、Tiの塩基に使用可能 |
◎PDFカタログ◎
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優れたアルゴン循環技術を用いた金属分析計です。
Fe、Al、Cu およびその他の基材の分析が可能です。
迅速で正確な定量分析や金属材料の品質管理と科学研究が可能です。
OSK 75GQ M4000
型番:OSK 75GQ M4000
◎特長◎
アルゴン循環技術
●優れた密閉性により、内部のアルゴン純度の長期間維持が可能
●高度なアルゴンパージ光学系、紫外線素子に最適化された性能
●濾過装置により、空気分子が除去されることで、 光学系の信用度を高めます。
●安定した圧力により、光学ドリフトが回避でき、 装置の長期安定性が高まります。
●低いアルゴン消費量により、経済的
CCD(電荷結合素子)フルスペクトル分析技術
●豊富なスペクトル、より良い精度
●フルスペクトル識別背景により、分析精度が向上
●適切な感度波長を選択し、マルチスペクトル順応技術により、優れたパフォーマンスを実現
●多スペクトル適合技術の適用により、スペクトルの干渉を除去でき、正確な測定を実現
スマートで信頼性の高いデジタルソース
●プログラマブルなデジタル電気スパーク源。様々なベースに対応することで、分析精度が向上
発光スタンド
●内部空間を小さくした開放型の点火台により、ガス消費量を削減 ●4方向アルゴンフラッシング設計により、残留ダストを効果的に除去し、メンテナンスの手間を軽減
高度で安定した光学システム
●全波長をカバーするパッシェンランジ光学系、 高解像度のマルチCCD検出器を用いるリアルタイムモニタリングと恒温により、光学システムの安定性を保証
特注試料クランプ
●様々なサンプル形状に適応
ワンボタン操作
●ワンボタン操作で素早く簡単に扱え、製造現場の要求を容易に対応
◎アプリケーション◎
測定、試験、検査 / 加工機などへのローディング/アンローディング/ パレタイジング/組み立て他
◎仕様◎
型番 |
OSK 75GQ M4000 |
光学システム |
パッシェン-ルンゲ光学系 高分解能のマルチCCD検出器 波長範囲 175~520 nm 光学系密閉アルゴン循環システム |
発光スタンド |
オープン発光スタンド 様々な試料形状に対応する簡単操作の試料クランプ 最適化されたアルゴン循環設計 クリーニングとメンテナンスが容易 |
励起光源 |
プログラマブルパルスデジタルソース 最大放電周波数:1000 Hz 最大放電電流:400A スパーク点火パルス: 1~14kV スパーク励起パルス:20~230V アーク励磁パルス:20~60V |
励起穴 |
直径:13mm |
アルゴン要件 |
要求純度:99.999% 入力圧力: 0.5MPa スパーク時最大3.5L/min 平均待機流量 0.1L/分 |
電気および環境要件 |
AC220V±20V,50Hz スパーク時最大400VA 平均待機電力:50VA 室温 10℃~30℃ 保管温度 0℃~45℃ 相対湿度: 20%~80% |
EMC |
IEC61000-4-2,IEC61000-4-4,IEC61000-4-5 |
寸法 |
長さ×幅×高さ:818mm×590mm×396mm 正味重量:70kg |
モデル |
波長 |
説明 |
OSK 75GQ M4000 N |
175-520 nm |
Fe、Al、Cu などのベースに使用可能 |
OSK 75GQ M4000 S |
200-520 nm |
Al, Cu のベースに使用可能 |
◎PDFカタログ◎
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OSK 75DU EASY G1310 ガスピクノメーターは、ガス置換法の原理に基づいて設計されたCIQTEK社製の真密度試験機です。この製品は、マルチサンプルコンパートメント設計により、高度に統合され、コンパクト、軽量でコスト効率が高く、ユーザーに好まれています
型番:OSK 75DU EASY G
◎特長◎
● 10インチインチタッチスクリーンテスター
● 容量の異なる 4 つのサンプル容器の測定が可能
● 大きな熱容量を備えた統合金属パイプラインシステムは、プロセス全体で温度 の均一性と緩やかな変化を保証し、オンデマンドで温度制御することで、さまざまな試験ニーズに対応。
●高精度デジタル数量取得システム、強力な耐干渉能力、および高い拡張性。
◎アプリケーション◎
測定、試験、検査 / 加工機などへのローディング/アンローディング/ パレタイジング/組み立て他
◎仕様◎
型番 |
OSK 75DU EASY G1310 ガスピクノメーター |
検査数 |
3 |
サンプルセル |
5ml, 10ml, 35ml, 65ml |
テストガス |
高純度 He 若しくは N2 (99.999%) |
検査精度 |
精度 ±0.02%;再現性 ±0.01%;分解能 0.0001 g/cc |
検査選択モード |
負圧 (0 ~ 1 Bar) モード / 正圧 (1 Bar ~ 2 Bar) モードを要求に合わせて選択 |
圧力センサー |
3 Bar ;精度 0.05% FS / 長期安定性: 0.025% FS |
パイプライン構造 |
統合パイプラインシステム |
◎PDFカタログ◎
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