スプリットビーム紫外可視分光光度計。スペクトル分析/定量分析/動態解析/測光分析に適用する。高度な光学システムにより、低迷光が保証されます。（迷光値≦0.05%）
型番：OSK 75QF T6
◎特徴◎
- 高速スキャン – 波長ドライブの速度は最大 7000nm/min。
- ソフトを介し、測光測定、定量測定、スペクトルスキャン、3D プレゼンテーション/DNA/タンパク質分析等が可能。
- 要求に応じてGLP/GMP/GRPに適合した管理設定を行うことができます。
- 詳細な監査証跡を備えた広範な管理機能。
- 21CFR Part 11準拠（電子記録/電子署名機能）
- 低迷光 – 0.05% 未満の迷光。
- 優れた素材により、安定性と耐久性。
- ランプ使用量自動検出システム。
- ダスト フィルターにより、機器の内部部品をコンタミフリーに保ちます。
◎仕様◎
| 型番 | OSK 75QF T6U | OSK 75QF T6V |
| 受光光学系 | スプリットビームモニタリングレシオシステム(Split beam monitoring ratio system) | |
| 波長範囲 | 190~1100nm | 325~1100nm |
| 波長精度 | ±1nm | ±2nm |
| 波長再現性 | ≦0.2nm | ≦0.4nm |
| スペクトル帯域幅 | 2nm | |
| 迷光 | ≦0.05%T | ≦.1%T |
| 測光範囲 | -0.3~3Abs | -0.3~3A |
| 測光精度 | ±0.002Abs(0~0.5A) ±0.004Abs(0.5~1A) ±0.3%T(0~100%T) |
|
| 測光再現性 | ≦0.001A(0~0.5A) ≦0.002A(0.5~1A) ≦0.15%T(0~100%T) |
|
| ベースライン平坦度 | ±0.002A (200~1000nm) | ±0.002A (325~1000nm) |
| 測光ノイズ | ±0.001A (500nm,p-p), 30分ウォームアップ | |
| ベースライン安定性 | ≦0.001A/h(500nm,0Abs), 2時間のウォーミングアップ | |
| 寸法 W*D*H | 476×362×225 mm | |
| 重量 | 11 kg | |
◎標準付属品◎
- OSK 75QF T6 紫外可視分光光度計
- 解析ソフト
- 取扱説明書
- 電源ケーブル
◎オプション◎
固体サンプルホルダー
可変13-16mm 試験管ホルダー
光路長セルチェンジャー
＊ オプション品の中には本体ご購入の際にご注文いただく必要のあるものもございますので、予めご相談ください。
◎PDFカタログ◎
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