2026.08.10 OSK 36XQ 2006 レーザー回折式粒度分布測定装置 ミー散乱原理に基づきレーザ光により、最高0.01μm〜1000μmの超広域粒子径を最速10秒・精度0.5%以下で精密測定します。また内蔵された試料調整機構で研磨剤、電池材料、製薬など多様な粉体測定の省力化と再現性向上を実 […]