空気中のイオン性不純物により電子部品上に発生する汚染の度合いを洗浄液中のイオン量を測定して評価します。
型番：OSK 44NM CT100/1000 イオン汚染分析機
約10分程度※の試験サイクルで1部品あるいは1基板の試験を完了します。 定量的な試験結果により在庫保管環境の改善を確実に行うことができます。
※IPC-TR-583規格での所要時間
◎特徴◎
- 溶液中の化合物は多様なため、規格に従いイオン種がNaClであると仮定してNaCl / cm²で換算します。
- 汚染度の測定をスタティック法で行うことができます。(基板の純水抽出試験)
- 装置の測定精度は高く0.0001 µS/cm レベルまで測定します。
- 同時にパーツを洗浄し、イオン樹脂フィルタで洗浄液をリサイクルするので環境汚染を最低限に抑えることができます。
- 以下の国際的な規格に適合しています:
- Mil-P-28809 et Mil-STD-2000A (USA)
- Defense Standard 10/03 (UK)
- IPC-TM-650；IPC-TR-583
- 0.4L, 8L, 40Lと3種類の異なる洗浄槽容量を揃えました。
- 耐久性が高くメンテナンスが容易な構造です。
◎アプリケーション◎
- SMD事業所における在庫保存期間中の各部品在庫のイオン汚染度の評価
◎仕様◎
| 型番 | OSK 44NM CT100 | OSK 44NM CT1000 |
|---|---|---|
| 槽サイズ 内寸（ｍｍ） | 80 x 290 x 350 | 120 x 500 x 660 |
| 槽サイズ 容量 | 8.12L | 39.6L |
| 槽サイズ オプション | n/a | 調製可 |
| 洗浄時間（1試験） | IPC-TR-583規格設定で約10分 | |
| 洗浄溶液 | 50％または75％のイソプロパノールおよび純水 | |
| 洗浄溶液リサイクル方法 | 樹脂フィルタでの濾過（1リットル分のフィルタ樹脂入りカートリッジを交換可能） | |
| 廃液 | フルリサイクルで廃液なし | |
| 測定範囲 | 0.01 ～ 20.00 µg Eq NaCl / cm² | |
| 測定精度 | 0.0001 µS/cm 約0.03 µg Eq NaCl/cm² | |
| プロセス制御 | PCソフトウェアによる完全自動制御 | |
| 対応言語 | 英語、フランス語、ドイツ語、イタリア語、中国語 | |
| 適合規格 | • Mil-P-28809 et Mil-STD-2000A (USA) • Defense Standard 10/03 (UK) • IPC-TM650;IPC-TR-583 |
|
| 最小基板表面積 | 100cm2 | 500cm2 |
| 外形寸法（ｍｍ） | 510 ×315 ×590 |
600 ×960 ×1020 |
| 電源 | 標準仕様 : 230 V AC 50 Hz オプション : 110V AC 60 Hz | |
| 重量 (kg) | 約25㎏ | 約128㎏ |
◎標準付属品◎
- 試験機本体
- 温度計
- 濃度計
- 制御用ソフトウェアインストール用USBメモリスティック
- シリアル接続用ケーブル及びUSBアダプタ
- 取扱説明書
制御ソフトウェアインストール用PC要件：
- パソコン (IBM互換), Pentium (最低 120 MHz)
- PCモニター およびグラッフィックカード
（最低VGA 800×600ピクセル表示可能 ） - RAM メモリ 最低64 MB
- OS Windows 98以上
- 使用するウィンドウズのバージョンで互換性があるプリンタ
- Microsoft Word（レポート出力用）
◎オプション◎
- 75/25溶液用濃度計
- 50/51溶液用濃度計
- 温度計
- 洗浄用ボトル
- 校正用溶液 1,00 g / l, 50cc
